一、概況 

介質(zhì)損耗測試儀是一種先進的測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，抗干rao能力強， 測試時間短等優(yōu)點;另外,本儀器針對電容式電壓互感器(CVT)試驗困難的特點,增設了外接法測試,外接標準電容器、調(diào)壓器,使得測試非常簡單可靠,是我廠的第三代智能化PX3012介質(zhì)損耗測試儀。

二、技術(shù)指標

1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應避免長時間日照）

  2、相對濕度：30%～70%

  3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±Hz

  4、外形尺寸：長*寬*高=435mm*300mm*300mm

  5、重量：20kg

  6、輸出功率：1KVA

  7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）

  8、測試方法：正接法、反接法、外接法

  9、測量范圍：內(nèi)接試驗電壓：≤60000PF

               外接試驗電壓：≤10μF 

 10、基本測量誤差：

            介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5%±0.09%

電容容量（Cx）：1.0%±2PF

三、工作原理

   儀器測量線路包括一路標準回路和一路測試回路，如圖三所示。

   標準回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標準電容器與標準電阻網(wǎng)絡組成，由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并由之算出被測試品電容容值（CX）和其介質(zhì)損耗（tgδ）。

   數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼地屏蔽；另外使用了光導數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計算機對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進行處理，使測量結(jié)果穩(wěn)定、精確、可靠。